その深刻さに応じて分類単位の可能な欠陥のリストです。注： 一般的分類に使用される: クラス A、クラス B、クラス C、クラス D; または重要な主要なマイナーおよび付随; または重要な主要なマイナー。これらの定義の分類には、入念な準備と適切な分類に欠陥の正確な割り当てを確保するためにサンプリングされている製品に仕立てが必要です。A 独立した受諾サンプリング計画通常欠陥の各クラスに適用されます。